多选题 较难0.4 引用2 组卷336
质谱仪是测量带电粒子比荷以及分析同位素的重要工具。下图为质谱仪的原理示意图,一束带电粒子以一定的初速度沿直线通过由相互正交的匀强磁场(磁感应强度为B)和匀强电场(场强为E)组成的速度选择器,然后粒子通过平板S上的狭缝P进入另一匀强磁场(磁感应强度为B'),最终打在感光板A1A2上,下列说法正确的是( )
![](https://img.xkw.com/dksih/QBM/editorImg/2022/9/7/48ff2466-7b90-4220-8359-ab8dc96932fd.png?resizew=202)
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A.粒子带负电 |
B.速度选择器中匀强磁场的方向垂直纸面向外 |
C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于EB |
D.粒子打在感光板A1A2上的位置越靠近P,粒子的比荷 |
19-20高二上·陕西渭南·期末
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如图所示是质谱仪的工作原理图。带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器。速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E。平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2。平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场。下列说法中正确的是( )
A.质谱仪不能用来分析同位素 |
B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内 |
C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于v= |
D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷越大 |
图示是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器。速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度大小分别为B和E,平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2,其中OP与平板平行。平板S下方有磁感应强度大小为B0的匀强磁场。不计带电粒子所受的重力,下列表述正确的是( )
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A.质谱仪是分析同位素的重要工具 |
B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 |
C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于 |
D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷越小 |
如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器.速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场.下列表述错误的是( )
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A.质谱仪是分析同位素的重要工具 |
B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 |
C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于 |
D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷( |
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