单选题-单题 适中0.65 引用1 组卷648
如图甲所示为用光的干涉法来检查物体平面平整程度的装置，其中A为标准平板，B为被检查其平面的物体，在右端夹入薄纸片，C为入射光，图乙是观察到的干涉条纹。下列说法正确的是（ ）
| A．图示条纹是由A的下表面反射光和A的上表面反射光发生干涉形成的 |
| B．将薄纸片向左移动少许，从上往下可以观察到干涉条纹变稀疏 |
| C．当换用频率更高的单色光照射时，条纹间距不变 |
| D．图乙中条纹弯曲处对应着被检查平面处是凸起 |
23-24高二下·浙江·期中
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利用光的干涉规律可以检测工件表面的平整度与设计要求之间的微小差异。现将精度很高的标准玻璃板（样板），放在被检查工件上面，如图甲所示，在样板的左端垫一薄片，使标准玻璃板与被检查平面之间形成一楔形空气膜。用平行单色光向下照射，检查不同平面时，可观察到图乙或图丙的干涉条纹。下列说法正确的是（ ）
| A．干涉条纹是样板的上、下两个表面的反射光干涉形成的 |
| B．当稍向右移动图甲中的薄片时，条纹间距会变小 |
| C．当换用频率更高的单色光照射时，条纹间距不变 |
| D．图丙条纹弯曲处对应着被检查平面处是凸起的 |
利用光的干涉规律可以检测工件表面的平整度与设计要求之间的微小差异。现将精度很高的标准玻璃板（样板），放在被检查工件上面，如图甲所示，在样板的左端垫薄片，使标准玻璃板与被检查平面之间形成一楔形空气膜。用平行单色光向下照射，检查不同平面时可观察到图乙或图丙的干涉条纹。下列说法正确的是（ ）
| A．干涉条纹是样板的上下两个表面的反射光干涉形成的 |
| B．当稍向右移动图甲中的薄片时，条纹间距会变小 |
| C．当换用频率更高的单色光照射时，条纹间距不变 |
| D．图丙条纹弯曲处对应着被检查平面处是凹陷的 |
图甲是用光的干涉法来检查物体平面平整程度的装置，其中A为标准平板，B为被检查其平面的物体，C为入射光，图乙为观察到的干涉条纹，下列说法正确的是（ ）
| A．入射光C应采用单色光 |
| B．图示条纹是由A的下表面反射光和B的上表面反射光发生干涉形成的 |
| C．当A、B之间某处距离为入射光的半波长奇数倍时，对应条纹是暗条纹 |
| D．由图乙条纹可知，被检查表面上有洞状凹陷 |
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